ZB Y 340-1985 扫描电子显微镜 试验方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-13 18:25:15 浏览:8012
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 扫描电子显微镜 试验方法 |
| 中标分类： |
仪器、仪表 >>
光学仪器 >>
电子光学与其他物理光学仪器 |
| 替代情况： | 被JB/T 6842-1993代替 |
| 发布日期： | |
| 实施日期： | 1989-07-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版日期： | |
适用范围
没有内容
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 仪器 仪表 光学仪器 电子光学与其他物理光学仪器
基本信息
| 标准名称： | 飞行力学 概念、量和符号 飞行稳定性和操纵性 |
| 英文名称： | Flight mechanics－Concepts,quantities and symbols－Stability and control of aircraft |
| 中标分类： |
航空、航天 >>
航空、航天综合 >>
基础标准与通用方法 |
| ICS分类： |
航空器和航天器工程 >>
航空器与航天器综合
|
| 替代情况： | 替代HB 6445.4-1990;被GB/T 14410.3-2008代替 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1993-04-20 |
| 实施日期： | 1994-01-01 |
| 首发日期： | 1993-04-20 |
| 作废日期： | 2009-01-01 |
| 主管部门： | 中国航空工业第一集团公司 |
| 提出单位： | 中华人民共和国航空航天工业部 |
| 归口单位： | 中国航空工业第一集团公司 |
| 起草单位： | 西北工业大学 |
| 起草人： | 范立钦、肖业伦、李益瑞 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1994-01-01 |
| 页数： | 平装16开， 页数：10， 字数：16千字 |
适用范围
本标准规定了研究飞机稳定性和操纵性使用的术语和符号。本标准适用于具有固定翼的航空器，其他飞行器可参照使用。本标准中所指的机体坐标轴系的x方向接近飞机的零升力线。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 航空 航天 航空 航天综合 基础标准与通用方法 航空器和航天器工程 航空器与航天器综合
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part32:Flammabilityofplastic-encapsulateddevices(externallyinduced)
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第32部分:塑料密封器件的易燃性(外部引起的)
【标准号】:IEC60749-32Corrigendum1-2003
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2003-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:阻燃性;环境试验;集成电路;电气工程;电子设备及元件;试验;易燃性;机械试验;耐力;组件;温度变化;气候试验;电子工程;热学;电学测量;半导体器件;半导体;外观检查(试验)
【英文主题词】:Changesoftemperature;Climatictests;Components;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Inflammability;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Plastics;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing;Visualinspection(testing)
【摘要】:ThisisTechnicalCorrigendum1toIEC60749-32-2002(Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part32:Flammabilityofplastic-encapsulateddevices(externallyinduced))
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:
【正文语种】:英语
