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ZB N 05001.1-1986 光学晶体

作者:标准资料网 时间:2024-05-15 20:22:22  浏览:8055   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:光学晶体
中标分类: 仪器、仪表 >> 仪器、仪表综合 >> 仪器、仪表用材料和元件
替代情况:转化为JB/T 9495.1-1999
发布日期:
实施日期:1989-07-01
首发日期:
作废日期:
出版日期:
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所属分类: 仪器 仪表 仪器 仪表综合 仪器 仪表用材料和元件
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【英文标准名称】:Metallicandoxidecoatings-Measurementofcoatingthickness-Microscopicalmethod(ISO1463:2003);GermanversionENISO1463:2004
【原文标准名称】:金属和氧化物镀层.镀层厚度的测定.显微镜法
【标准号】:ENISO1463-2004
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2004-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:覆层;层厚度测量;显微分析;金属;测量技术;测量不确定度;材料试验;方法;尺寸;厚度;金属覆层;覆层厚度;金相学;釉层;氧化物覆层;尺寸测量;金属膜;试验;警告标志;定义
【英文主题词】:Calibration;Coatingthickness;Coatings;Definitions;Design;Dimensionalmeasurement;Dimensions;Layerthicknessmeasurement;Materialstesting;Measuringincertainity;Measuringtechniques;Metalcoatings;Metalfilms;Metallography;Metals;Methods;Microscopes;Microscopicanalysis;Oxidation;Oxidecoatings;Testresults;Testing;Thickness;Vitreousenamel;Warningnotices
【摘要】:
【中国标准分类号】:A29
【国际标准分类号】:17_040_20;25_220_40
【页数】:17P.;A4
【正文语种】:英语